국내 연구진이 인체에 유해한 중금속 함유 정도를 손쉽게 분석 할 수 있는 첨단 ‘X선 형광 분석기’를 개발했다.
 |
|
| ▲ 원광대 윤권하 교수 | |
과학기술부는 7일 원광대 익산방사선영상과학연구소 윤권하 교수팀이 인체에 유해한 납(Pb) 등 6가지 중금속 함유량을 분석할 수 있는 ‘X선 형광 분석기’ 개발에 성공했다고 밝혔다. 이번에 개발된 분석기는 물체에 X선을 쪼인 뒤 각 원소에서 방출되는 형광 엑스선을 검출해 시료의 구성원소 및 함량을 분석할 수 있는 기기다. 핵심기술은 나노급 X선 광학소자인 X선 ‘다층박막거울’(Multi-Layer Mirror)을 토대로 하고 있다. 이 기술은 국내외에 특허출원됐고, 최근 미국에서 열린 덴버 X선 콘퍼런스에서도 소개된 바 있다.
과기부는 “중금속 함유량이나 토양성분 분석, 농수산물 중금속 오염분석, 도금 및 필름의 정밀 두께측정, 초미세 원소의 극미량변화 관찰기반기술이 확보됐다.”고 설명했다. 특히 연간 200억원에 이르는 수입 대체효과는 물론 연 1조원 이상 규모의 세계 X선 분석기기 시장에 진입할 수 있는 발판을 마련하게 됐다고 평가했다.
이번 연구는 과기부가 원자력연구개발 사업으로 추진하고 있는 ‘나노급 방사선 의료영상을 위한 첨단기술개발 사업’의 결과물이다. 윤 교수는 “이번 연구를 통해 개발에 성공한 마이크로 및 나노 단층촬영장치(CT), 나노입자조영제 등과 함께 첨단방사선기술의 수출 모델로 성장할 수 있을 것”이라고 말했다.
이영표기자 tomcat@seoul.co.kr
